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概述
规格参数
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  • Dimension 光无源器件可靠性测试系统可以根据需求调整装配不同的模块,适用于对市面上的现有各类光无源器件的光学性能测试,环境稳定性测试,老化实验测试。同时该测试系统为了弥补传统设备只能在固定地方定点测试的缺点,在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试模块与处理数据的上位机都集成在箱体内部。无需担心数据处理与信息采集不及时的情况,设备可移动且独立完成整个测试任务。在生产制造测试领域的现场具有极大的优势,是真正为了现场而准备的测试设备。


    主要优势

    • 平台+模块化设计,应用扩展齐全

    • 可移动的一站式测量系统

    • 支持实时测量与长时间稳定性监测

    • 支持插入损耗与回波损耗同时监测

    • 测量误差小,测试稳定性高

    • 支持最高可达128ch的多路同时测试 

    • 丰富的接口配置


    主要应用

    • 符合各类标准: GR-326-CORE, GR-1435- CORE, GR-910-CORE, GR-1209-CORE, GR-2866-CORE, Verizon FOC

    • 光无源器件的光学性能检测

    • 长时间稳定性测试


    平台+模块化设计,应用扩展方便

    维度科技的11槽位OMEGA通用光学测试平台,可以兼容包含RLM系列插回损测试模块在内的多种功能测试模块,具有可热插拔、可编程、可扩展性强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。支持网络、USB、实体按键等多种控制方式。该系统集成了光开关、高稳定光源、高精度光功率计等功能测试模块,可以实现对无源器件的可靠性测试。



    可移动的一站式测量系统

    该系统在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试设备与处理数据PC都集成在箱体内部,设备可移动且独立完成整个测试任务。



    设备集成度高,一套系统完成各类测试

    不同于传统的测试方法,维度科技的可靠性测试系统里集成了插回损测试测试模块,光开关模块,光源,完成插回损一次测量,可针对不同的环境制定相关的。


    针对IL的测试,更小的误差,更高的稳定性

    该项测试系统使用了更高功率与稳定的SLS光源,通过PLC进行分光,满足测试中需要的多路同时测试。该系统避开了外接光开光造成对测试稳定均一性的干扰,也使用了更高稳定性的测试链路,完成单对单的高精度插损稳定测试。




  • 产品基本型号 DL-SYS-RTS1112A-1FA-24
    光功率计部分 模块类型 单模
    探测器类型 InGaAs
    探测器大小 2mm
    波长测试范围 850nm~1650nm
    光功率测试范围 +15dBm~-70dBm at 1550nm(不适用积分球)
    线性度 ±0.05dB(+5dBm~-50dBm)
    总不确定性 ±(5%+500pM)
    功率分辨率 0.001dB
    测试单位 dBm/dB
    插损部分 信号通道数量 24CH
    工作波长 1310/1550
    插损测量精度 0~3dB:<+/-0.08dB
    光纤类型 SM 9/125
    光输出接口 FC/APC
    光源稳定度 ±0.01dB(常温30分钟)
    回损部分 回损测量范围 -30~-80dB
    回损测量精度 -30~-65dB:±1.0dB; -65~-75dB:±2.0dB
    光纤测试长度 2~1000米
    单次测量时间<2s(单通道)
    主机部分
    工作电源 AC90~260V/50HZ
    开机稳定时间 20分钟(储存与使用一致) 60分钟(储存与使用温度不一致)
    建议校准周期 两年
    工作温度 10℃~40℃
    储存温度 -40℃~70℃
    尺寸 OMEGA机箱:462mmX374mmX171mm
    光源部分 光纤类型 SM 9/125;Panda PMF
    波长

    1270、1290、1310、1330、1350、1370、1390、1410、1430、1450、1470、1490、1510、1550、1570、1590、1625、1650

    波长精度 ±5nm
    输出功率24小时功率稳定度 ±0.005dB
    边摸抑制比 >50dB

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    • 参数列表
      InGaAs 2mm
      850~1650nm
      +15~-70dBm@1550nm
      单模
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