Dimension 光无源器件可靠性测试系统可以根据需求调整装配不同的模块,适用于对市面上的现有各类光无源器件的光学性能测试,环境稳定性测试,老化实验测试。同时该测试系统为了弥补传统设备只能在固定地方定点测试的缺点,在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试模块与处理数据的上位机都集成在箱体内部。无需担心数据处理与信息采集不及时的情况,设备可移动且独立完成整个测试任务。在生产制造测试领域的现场具有极大的优势,是真正为了现场而准备的测试设备。
主要优势
• 平台+模块化设计,应用扩展齐全
• 可移动的一站式测量系统
• 支持实时测量与长时间稳定性监测
• 支持插入损耗与回波损耗同时监测
• 测量误差小,测试稳定性高
• 支持最高可达128ch的多路同时测试
• 丰富的接口配置
主要应用
• 符合各类标准: GR-326-CORE, GR-1435- CORE, GR-910-CORE, GR-1209-CORE, GR-2866-CORE, Verizon FOC
• 光无源器件的光学性能检测
• 长时间稳定性测试
平台+模块化设计,应用扩展方便
维度科技的11槽位OMEGA通用光学测试平台,可以兼容包含RLM系列插回损测试模块在内的多种功能测试模块,具有可热插拔、可编程、可扩展性强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。支持网络、USB、实体按键等多种控制方式。该系统集成了光开关、高稳定光源、高精度光功率计等功能测试模块,可以实现对无源器件的可靠性测试。
可移动的一站式测量系统
该系统在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试设备与处理数据PC都集成在箱体内部,设备可移动且独立完成整个测试任务。
设备集成度高,一套系统完成各类测试
不同于传统的测试方法,维度科技的可靠性测试系统里集成了插回损测试测试模块,光开关模块,光源,完成插回损一次测量,可针对不同的环境制定相关的。
针对IL的测试,更小的误差,更高的稳定性
该项测试系统使用了更高功率与稳定的SLS光源,通过PLC进行分光,满足测试中需要的多路同时测试。该系统避开了外接光开光造成对测试稳定均一性的干扰,也使用了更高稳定性的测试链路,完成单对单的高精度插损稳定测试。
产品基本型号 | DL-SYS-RTS1112A-1FA-24 | |
光功率计部分 | 模块类型 | 单模 |
探测器类型 | InGaAs | |
探测器大小 | 2mm | |
波长测试范围 | 850nm~1650nm | |
光功率测试范围 |
+15dBm~-70dBm at 1550nm(不适用积分球) | |
线性度 | ±0.05dB(+5dBm~-50dBm) | |
总不确定性 | ±(5%+500pM) | |
功率分辨率 | 0.001dB | |
测试单位 | dBm/dB | |
插损部分 | 信号通道数量 | 24CH |
工作波长 | 1310/1550 | |
插损测量精度 | 0~3dB:<+/-0.08dB | |
光纤类型 | SM 9/125 | |
光输出接口 | FC/APC | |
光源稳定度 | ±0.01dB(常温30分钟) | |
回损部分 | 回损测量范围 | -30~-80dB |
回损测量精度 | -30~-65dB:±1.0dB; -65~-75dB:±2.0dB | |
光纤测试长度 | 2~1000米 | |
单次测量时间 | <2s(单通道) | |
主机部分 | 工作电源 | AC90~260V/50HZ |
开机稳定时间 | 20分钟(储存与使用一致) 60分钟(储存与使用温度不一致) | |
建议校准周期 | 两年 | |
工作温度 | 10℃~40℃ | |
储存温度 | -40℃~70℃ | |
尺寸 | OMEGA机箱:462mmX374mmX171mm | |
光源部分 | 光纤类型 | SM 9/125;Panda PMF |
波长 | 1270、1290、1310、1330、1350、1370、1390、1410、1430、1450、1470、1490、1510、1550、1570、1590、1625、1650 | |
波长精度 | ±5nm | |
输出功率24小时功率稳定度 | ±0.005dB | |
边摸抑制比 | >50dB |